3.1.2 Předběžná zkouška měřením vzorků materiálu

3.1.2 Předběžná zkouška měřením vzorků materiálu

3.1.2.1 Žadatel doručí posuzujícímu orgánu nejméně 2 kusy etalonových vzorků příslušejících ke zkoušené měřicí sestavě. Tyto vzorky musí pokrývat svou hmotností a svými magnetickými vlastnostmi rozsah hmotností a magnetických vlastností vzorků měřených zkoušenou měřicí sestavou v rámci rozsahu zkoušky typu. Tyto etalonové vzorky musí splňovat požadavky uvedené v bodě 2.2.1.2 a 2.2.2.3. K etalonovým vzorkům žadatele musí být přiloženy kopie evidenčních listů vzorků popřípadě předchozí ověřovací listy vzorků. K doručeným etalonovým vzorkům musí být přiloženy výsledky a protokoly jejich měření zkoušenou měřicí sestavou v rozsazích prováděných zkoušek ne starší než 3 měsíce do data doručení.

3.1.2.2 U doručených vzorků se změří na etalonové měřicí sestavě posuzujícího orgánu měrné ztráty a amplitudová charakteristika podle bodu 2.2.1.3. K změřenému vzorku se vystaví ověřovací list, kde se uvedou aritmetické střední hodnoty z opakovaných měření.

3.1.2.3 Vypočtou se relativní rozdíly měření měrných ztrát etalonových vzorků (příslušejících ke zkoušené měřicí sestavě) zkoušenou měřicí sestavou a etalonovou měřicí sestavou v %

δ = (p - p ). 100/p , (10)

pi 1i 2i 2i

kde p je aritmetický střed měření i-té hodnoty měrných ztrát zkoušenou měřicí

1i

sestavou (výsledky měření zaslané od žadatele spolu s etalonovými

vzorky),

p je aritmetický střed měření i-té hodnoty měrných ztrát etalonovou měřicí

2i

sestavou (výsledky měření uvedené ve vystaveném kalibračním listě).

Hodnoty relativních rozdílů měrných ztrát

δ

pi

zjištěné v rámci této zkoušky musí být menší než 3 % pro vzorky z orientovaného materiálu pro hodnoty magnetické polarizace do 1,7 T a pro vzorky z neorientovaného materiálu pro hodnoty magnetické polarizace do 1,5 T.

3.1.2.4 Vypočtou se relativní rozdíly měření amplitudové charakteristiky etalonových vzorků (příslušejících ke zkoušené měřicí sestavě) zkoušenou měřicí sestavou a etalonovou měřicí sestavou v % jako minimální normované vzdálenosti i-tého bodu

(B , H )

i i

charakteristiky zjištěné měřením zkoušenou měřicí sestavou od charakteristiky určené měřením téhož etalonového vzorku etalonovou měřicí sestavou podle rovnice (11), (12) nebo (13):

2

δ = δ . 100/√ [l + [(H /B ) . (dB/dH) ] ] =

ai Bi i i i

2 2

= ΔB . l00/√ [B + [H . (dB/dH) ] ] (11)

i i i i

-1 2

δ = δ . 100/√ [ 1 + [(B /H ) . (dB/dH) ] ] =

ai Hi i i i

2 -1 2

= ΔH .100/√ [H + [B . (dB/dH) ] ] (12)

i i i i

2 2

δ = δ . |δ | . l00/√ (δ + δ ) =

ai Bi Hi Bi Hi

2 2 2 2

= ΔB . |ΔH | . 100/√ (ΔB . H + ΔH . B ) (13)

i i i i i i

kde odmocniny se berou jen kladné a kde

δ = (B - B')/|B | = ΔB /|B |, (14)

Bi i i i i i

ΔB = B - B', (15)

i i i

δ = (H - H')/|H | = ΔH /|H |, (16)

Hi i i i i i

ΔH = H - H', (17)

i i i

(dB/dH)

i

je směrnice tečny křivky dané měřením etalonového vzorku etalonovou měřicí sestavou v bodě

(H , B'),

i i

H a B

i i

jsou hodnoty intenzity magnetického pole resp. magnetické indukce i-tého bodu charakteristiky etalonového vzorku měřené zkoušenou měřicí sestavou,

B'

i

je hodnota magnetické indukce odečtená na charakteristice měřené etalonovou měřicí sestavou pro hodnotu

H ,

i

H'

i

je hodnota intenzity magnetického pole odečtená na charakteristice měřené etalonovou měřicí sestavou pro hodnotu

B .

i

Relativní rozdíly měření amplitudové charakteristiky

δ

ai

musí být menší než 4 % pro všechny body měření charakteristik etalonových vzorků v rámci této zkoušky.