1. Terminologie
1.1. Měřicí sestava se používá pro měření amplitudové charakteristiky a měrných ztrát plechů pro elektrotechniku. Skládá se z přístrojů a zařízení zapojených podle obrázků 1 až 3 a specifikovaných v bodu 2.
1.2. Etalonový vzorek pro Epsteinův přístroj příslušející k měřicí sestavě je vzorek splňující požadavky této vyhlášky a používaný výhradně k metrologické návaznosti měřicí sestavy.
1.3. Etalonová měřicí sestava je měřicí sestava podle bodu 1.1, která je v držení metrologické instituce, je dlouhodobě sledovaná a prostřednictvím etalonových vzorků mezinárodně porovnaná.
1.4. Měrné ztráty měřené měřicí sestavou jsou ztráty přemagnetováním v měřeném vzorku vztažené k aktivní hmotnosti vzorku.
1.5. Amplitudová charakteristika je závislost amplitudy magnetické polarizace ve vzorku na amplitudě intenzity magnetického pole ve vzorku.